由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR-H / 波長: 1.54 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2014年2月22日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.37→54.48 Å / Num. obs: 9500 / % possible obs: 95.72 % / 冗長度: 3.1 % / Rmerge(I) obs: 0.11 / Net I/σ(I): 11.26
反射 シェル
解像度: 2.37→2.46 Å / 冗長度: 2.2 % / Rmerge(I) obs: 0.36 / Mean I/σ(I) obs: 2.75 / % possible all: 73.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.37→54.48 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.928 / SU B: 20.991 / SU ML: 0.242 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 1.271 / ESU R Free: 0.294 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23967
964
10.1 %
RANDOM
Rwork
0.19292
-
-
-
obs
0.19776
8536
95.65 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.7 Å / 減衰半径: 0.7 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: MASK