プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9537 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.6→40.72 Å / Num. obs: 23221 / % possible obs: 97.6 % / 冗長度: 7.5 % / Biso Wilson estimate: 20.68 Å2 / Rsym value: 0.08 / Net I/σ(I): 17.8
反射 シェル
解像度: 1.6→1.62 Å / 冗長度: 7.2 % / Rmerge(I) obs: 0.669 / Mean I/σ(I) obs: 2.8 / % possible all: 90.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
Coot
モデル構築
PHASER
位相決定
Aimless
データスケーリング
XDS
データ削減
Blu-Ice
データ収集
精密化
解像度: 1.6→40.72 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.97 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.951 / SU B: 2.988 / SU ML: 0.054 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.082 / ESU R Free: 0.083 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.18247
1184
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.14985
-
-
-
obs
0.15154
22035
97.17 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK