プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.084→44.61 Å / Num. obs: 23354 / % possible obs: 95.9 % / 冗長度: 8.9 % / Net I/σ(I): 25.9
反射 シェル
解像度: 2.08→6.59 Å / 冗長度: 8.4 % / Rmerge(I) obs: 0.22 / Mean I/σ(I) obs: 8.9 / % possible all: 97
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 2.084→44.61 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.959 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.932 / SU B: 2.616 / SU ML: 0.073 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.131 / ESU R Free: 0.127 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.19101
1194
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.15462
-
-
-
obs
0.1565
22141
95.14 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK