モノクロメーター: double flat crystal Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.11587 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.7→65.75 Å / Num. obs: 75678 / % possible obs: 95.8 % / 冗長度: 8.4 % / Net I/σ(I): 14.5
反射 シェル
解像度: 1.7→1.73 Å / 冗長度: 5.1 % / Mean I/σ(I) obs: 1.1 / % possible all: 70.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
PHENIX
精密化
精密化
解像度: 1.7→65.75 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.976 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.957 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.099 / ESU R Free: 0.084 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.18454
3839
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.13671
-
-
-
obs
0.13907
71841
95.57 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK