ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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XSCALE | | データスケーリング | | PHASER | 2.5.5位相決定 | | REFMAC | 5.8.0049精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.14 | データ抽出 | | BOS | | データ収集 | | XDS | | データ削減 | | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: pdb entry 4O5F, pantothenate-bound structure, residues 85-150 解像度: 1.7→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.4 / SU B: 3.411 / SU ML: 0.058 / Isotropic thermal model: isotropic, TLS / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.094 / ESU R Free: 0.09 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDED
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.1864 | 2797 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1619 | - | - | - |
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all | 0.1631 | 56674 | - | - |
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obs | 0.1631 | 56234 | 99.36 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 89.26 Å2 / Biso mean: 29.2943 Å2 / Biso min: 14.4 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.72 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.72 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -1.45 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.7→50 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3635 | 0 | 30 | 400 | 4065 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.013 | 0.019 | 3798 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.006 | 0.02 | 3635 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.548 | 1.947 | 5204 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg1.201 | 3 | 8296 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.66 | 5 | 514 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg31.375 | 22.158 | 139 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg11.614 | 15 | 501 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg12.256 | 15 | 29 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.092 | 0.2 | 609 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.008 | 0.021 | 4362 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.006 | 0.02 | 873 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it1.393 | 1.661 | 2017 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_other1.376 | 1.66 | 2016 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it2.167 | 2.481 | 2520 | | | | | | | | | | | | | | |
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Refine LS restraints NCS | Ens-ID: 1 / 数: 12505 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / タイプ: interatomic distance / Rms dev position: 0.14 Å / Weight position: 0.05 |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.7→1.744 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.235 | 173 | - |
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Rwork | 0.199 | 3876 | - |
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all | - | 4049 | - |
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obs | - | 4056 | 97.85 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 2.5176 | 1.0733 | -1.387 | 3.1973 | -0.709 | 2.9245 | -0.1619 | -0.0937 | -0.2308 | -0.1704 | -0.0769 | -0.2484 | 0.7706 | 0.4774 | 0.2388 | 0.2347 | 0.1303 | 0.0539 | 0.1013 | 0.024 | 0.1267 | 23.455 | 41.257 | 18.6 | 2 | 0.1488 | 0.0328 | 0.2085 | 0.142 | 0.0057 | 0.3282 | 0.0026 | 0.0054 | -0.0398 | 0.0001 | 0.0161 | -0.0298 | 0.0145 | 0.0076 | -0.0187 | 0.0779 | 0.0031 | 0.0026 | 0.0828 | 0.0188 | 0.1094 | 22.725 | 49.057 | 37.584 | 3 | 1.0369 | -0.3906 | -0.0422 | 4.2393 | -4.1517 | 4.2483 | 0.1616 | -0.0243 | 0.2702 | 0.7374 | -0.0926 | -0.0595 | -0.8391 | 0.0972 | -0.069 | 0.4471 | -0.0265 | 0.067 | 0.0264 | -0.0298 | 0.1291 | 43.556 | 77.943 | 71.426 | 4 | 0.7184 | 0.2466 | 0.8473 | 0.2268 | 0.2058 | 1.561 | -0.0338 | -0.0557 | 0.0926 | 0.0237 | 0.0124 | 0.0468 | -0.1225 | -0.0284 | 0.0214 | 0.1086 | 0.0121 | -0.0048 | 0.0658 | 0.0046 | 0.0811 | 34.635 | 61.749 | 62.388 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A3 - 48 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | A49 - 259 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | B3 - 51 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 4 | B52 - 258 | | | | |
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