由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2010年11月5日 / 詳細: Mirrors
放射
モノクロメーター: OSMIC MIRROR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 4.4 % / Av σ(I) over netI: 10.4 / 数: 117278 / Rsym value: 0.052 / D res high: 2.16 Å / D res low: 71.863 Å / Num. obs: 26649 / % possible obs: 100
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Rsym value
Redundancy
2.16
2.28
100
1
0.276
0.276
4.3
2.28
2.41
100
1
0.21
0.21
4.3
2.41
2.58
100
1
0.162
0.162
4.4
2.58
2.79
100
1
0.115
0.115
4.4
2.79
3.05
100
1
0.076
0.076
4.4
3.05
3.42
100
1
0.052
0.052
4.5
3.42
3.94
100
1
0.037
0.037
4.5
3.94
4.83
100
1
0.035
0.035
4.5
4.83
6.83
100
1
0.038
0.038
4.6
6.83
47.49
99.2
1
0.022
0.022
4.5
反射
解像度: 2.16→49.23 Å / Num. obs: 26649 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 4.4 % / Biso Wilson estimate: 30.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.052 / Net I/σ(I): 14.1
反射 シェル
解像度: 2.16→2.28 Å / 冗長度: 4.3 % / Rmerge(I) obs: 0.276 / Mean I/σ(I) obs: 4.3 / Num. unique all: 16519 / % possible all: 100
解像度: 2.16→47.53 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.917 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.889 / WRfactor Rfree: 0.2694 / WRfactor Rwork: 0.2325 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.3 / FOM work R set: 0.8083 / SU B: 6.388 / SU ML: 0.164 / SU R Cruickshank DPI: 0.3096 / SU Rfree: 0.2316 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.31 / ESU R Free: 0.232 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES: REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2734
1354
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.233
-
-
-
obs
0.235
26645
99.96 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK