由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2011年10月1日 / 詳細: Mirrors
放射
モノクロメーター: OSMIC MIRROR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 5.4 % / Av σ(I) over netI: 6.9 / 数: 58759 / Rsym value: 0.108 / D res high: 1.872 Å / D res low: 76.535 Å / Num. obs: 10808 / % possible obs: 96.3
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Rsym value
Redundancy
2.35
2.48
93.5
1
0.489
0.489
5.4
2.48
2.63
95.2
1
0.391
0.391
5.4
2.63
2.81
96.1
1
0.265
0.265
5.5
2.81
3.03
96.6
1
0.186
0.186
5.5
3.03
3.32
97
1
0.131
0.131
5.6
3.32
3.72
97
1
0.081
0.081
5.5
3.72
4.29
97.7
1
0.056
0.056
5.5
4.29
5.25
98
1
0.047
0.047
5.4
5.25
7.43
98.5
1
0.049
0.049
5.3
7.43
42.11
98.2
1
0.026
0.026
4.9
反射
解像度: 2.35→54.52 Å / Num. obs: 10808 / % possible obs: 96.3 % / 冗長度: 5.4 % / Biso Wilson estimate: 33.7 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.108 / Net I/σ(I): 12.7
反射 シェル
解像度: 2.35→2.48 Å / 冗長度: 5.4 % / Rmerge(I) obs: 0.489 / Mean I/σ(I) obs: 3.4 / Num. unique all: 7982 / % possible all: 93.5
解像度: 2.35→42.15 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.933 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.898 / WRfactor Rfree: 0.2181 / WRfactor Rwork: 0.1725 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8424 / SU B: 7.207 / SU ML: 0.175 / SU R Cruickshank DPI: 0.4224 / SU Rfree: 0.263 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.422 / ESU R Free: 0.263 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES: REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2492
557
5.2 %
RANDOM
Rwork
0.1977
-
-
-
obs
0.2005
10805
95.73 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK