ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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SCALEPACK | | データスケーリング | | PHASER | | 位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.11 | データ抽出 | | JBluIce-EPICS | | データ収集 | | HKL-3000 | | データ削減 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PDB ENTRY 1I3V 解像度: 1.553→26.96 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9571 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.95 / WRfactor Rfree: 0.2422 / WRfactor Rwork: 0.2094 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.3 / FOM work R set: 0.8697 / SU B: 2.404 / SU ML: 0.042 / SU R Cruickshank DPI: 0.0875 / SU Rfree: 0.0768 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.087 / ESU R Free: 0.077 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2264 | 1253 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1987 | - | - | - |
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obs | 0.2004 | 23401 | 99.2 % | - |
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all | - | 24651 | - | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 97.16 Å2 / Biso mean: 21.8934 Å2 / Biso min: 13.94 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.18 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -0.18 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.35 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.553→26.96 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 968 | 0 | 5 | 84 | 1057 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.007 | 0.022 | 1021 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.111 | 1.944 | 1398 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.059 | 5 | 134 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg27.72 | 22.045 | 44 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg13.155 | 15 | 144 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg14.875 | 15 | 9 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.073 | 0.2 | 147 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.004 | 0.02 | 798 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined0.193 | 0.2 | 388 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_refined0.303 | 0.2 | 697 | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined0.116 | 0.2 | 63 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined0.159 | 0.2 | 24 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined0.09 | 0.2 | 7 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.822 | 1.5 | 649 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.365 | 2 | 1011 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it1.99 | 3 | 447 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it2.614 | 4.5 | 382 | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.553→1.593 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.306 | 85 | - |
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Rwork | 0.258 | 1586 | - |
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all | - | 1671 | - |
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obs | - | - | 93.09 % |
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