温度: 290 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 詳細: 0.2M ammonium chloride, 20% PEG 3350, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 290K
-
データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: APS / ビームライン: 22-ID
検出器
タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2012年11月3日
放射
モノクロメーター: Si 111 / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
相対比: 1
反射
解像度: 2.77→34.76 Å / Num. obs: 5250 / % possible obs: 99.13 %
反射 シェル
解像度: 2.77→2.85 Å / % possible all: 94.62
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHASER
位相決定
REFMAC
5.7.0029
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.77→34.76 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.946 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.937 / SU B: 24.786 / SU ML: 0.225 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.299 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20994
240
4.6 %
RANDOM
Rwork
0.19055
-
-
-
obs
0.19144
5250
99.02 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK