ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SHARP位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : AB INITIO PHASING / 解像度 : 3.59→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.907 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.907 / SU B : 99.088 / SU ML : 0.579 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 1.22 / ESU R Free : 0.544 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.32747 1104 5.1 % RANDOM Rwork 0.30593 - - - obs 0.30704 20561 99.65 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 178.253 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 6.96 Å2 3.48 Å2 0 Å2 2- - 6.96 Å2 0 Å2 3- - - -10.44 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 3.59→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4215 0 33 0 4248
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.02 4370 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.328 1.962 5953 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg13.57 5 548 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.347 21.788 151 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg27.221 15 658 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg21.413 15 20 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.179 0.2 670 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.013 0.021 3259 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 3.588→3.678 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.426 68 - Rwork 0.44 1317 - obs - - 98.79 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.8619 0.4917 1.9911 0.318 0.9908 3.399 0.0505 0.4905 -0.2409 -0.0307 -0.0129 0.0161 -0.1949 0.3828 -0.0376 0.2428 -0.0757 -0.0013 0.795 -0.0115 0.4851 7.7106 -48.7517 26.8693 2 0.8805 0.9648 -1.8219 3.0525 -1.4941 3.943 -0.0684 -0.2513 -0.0514 0.0425 0.0115 -0.1566 0.1279 0.4137 0.057 0.2338 0.2789 -0.0264 0.8427 -0.03 0.3962 -31.7732 -59.5282 8.6106
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A5 - 463 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 91