ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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XSCALE | | データスケーリング | | PHASER | | 位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.11 | データ抽出 | | StructureStudio | | データ収集 | | XDS | | データ削減 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PDB ENTRY 4F36 解像度: 1.95→41.65 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.958 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.927 / WRfactor Rfree: 0.1687 / WRfactor Rwork: 0.1341 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.3 / FOM work R set: 0.9062 / SU B: 4.853 / SU ML: 0.076 / SU R Cruickshank DPI: 0.1456 / SU Rfree: 0.1322 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.146 / ESU R Free: 0.132 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: U VALUES : WITH TLS ADDED HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.1884 | 1777 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1475 | - | - | - |
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obs | 0.1495 | 35706 | 98.47 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 49.79 Å2 / Biso mean: 13.4611 Å2 / Biso min: 4.86 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.03 Å2 | -0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.01 Å2 | -0 Å2 |
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3- | - | - | 0.02 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.95→41.65 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3515 | 0 | 95 | 499 | 4109 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.012 | 0.02 | 3808 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.001 | 0.02 | 2588 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.523 | 1.986 | 5206 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg0.918 | 3 | 6329 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.725 | 5 | 492 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg30.617 | 23.797 | 158 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg11.913 | 15 | 625 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg23.517 | 15 | 21 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.079 | 0.2 | 567 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.006 | 0.021 | 4237 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.001 | 0.02 | 800 | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.95→2.001 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.196 | 102 | - |
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Rwork | 0.168 | 2023 | - |
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all | - | 2125 | - |
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obs | - | - | 85.07 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 0.4072 | -0.0646 | -0.034 | 0.9041 | -0.0729 | 0.3642 | -0.0311 | -0.0766 | -0.0215 | 0.063 | 0.0088 | -0.0605 | 0.0368 | 0.0369 | 0.0223 | 0.0147 | 0.0157 | -0.0013 | 0.0279 | 0.0057 | 0.0142 | 17.2954 | 14.4296 | 37.4106 | 2 | 0.645 | 0.2148 | -0.0318 | 0.4798 | -0.0115 | 0.3297 | -0.0108 | 0.0999 | -0.032 | -0.0622 | 0.0088 | -0.0328 | -0.0018 | 0.0241 | 0.002 | 0.0225 | 0.004 | 0.0184 | 0.0378 | -0.0074 | 0.0206 | 15.474 | 17.469 | 13.5865 | 3 | 0.6493 | 0.1857 | 0.0116 | 0.3128 | 0.0659 | 0.3158 | -0.0127 | -0.0085 | 0.0262 | 0.0597 | 0.0059 | -0.0097 | -0.0218 | 0.0258 | 0.0068 | 0.0301 | -0.0022 | -0.0042 | 0.0041 | -0.0026 | 0.0139 | 3.5361 | 44.4954 | 39.7228 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A1 - 152 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A201 - 202 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B1 - 152 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B201 - 203 | 5 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | C1 - 153 | 6 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | C201 - 202 | | | | | | |
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