モノクロメーター: Side scattering bent cube-root I-beam single crystal; asymmetric cut 4.965 degs. プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.65→52.598 Å / Num. all: 17677 / Num. obs: 17677 / % possible obs: 81 % / 冗長度: 3.8 % / Rsym value: 0.195 / Net I/σ(I): 6.2
反射 シェル
Rmerge(I) obs: 0.01 / Diffraction-ID: 1
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Mean I/σ(I) obs
Num. measured all
Num. unique all
Rsym value
% possible all
2.65-2.79
3.7
0.7
8583
2313
1.011
72.9
2.79-2.96
3.7
1.1
9062
2425
0.663
80.6
2.96-3.17
3.8
1.5
9402
2491
0.464
87.5
3.17-3.42
3.8
2.6
8410
2239
0.273
85.2
3.42-3.75
3.8
3.7
7638
2015
0.189
82.4
3.75-4.19
3.7
5.5
5615
1516
0.127
68.3
4.19-4.84
3.8
5.9
6397
1683
0.113
87.6
4.84-5.93
3.7
5.7
5229
1407
0.117
85.7
5.93-8.38
3.8
6.1
3540
923
0.1
72.9
8.38-52.598
3.7
9.3
2463
665
0.063
97
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALA
3.3.20
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.1
データ抽出
Blu-Ice
データ収集
MOSFLM
データ削減
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.65→72.55 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.927 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.908 / WRfactor Rfree: 0.2472 / WRfactor Rwork: 0.2005 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8323 / SU B: 25.566 / SU ML: 0.239 / SU R Cruickshank DPI: 0.3103 / SU Rfree: 0.3665 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.366 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES: WITH TLS ADDED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2518
866
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.2081
-
-
-
obs
0.2102
17677
80.85 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK