モノクロメーター: MIRROR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.7→50 Å / Num. obs: 21903 / % possible obs: 95.7 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 8.7 % / Biso Wilson estimate: 13 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 29.7
反射 シェル
解像度: 1.7→1.75 Å / 冗長度: 3.3 % / Rmerge(I) obs: 0.81 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 71.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.7→53.03 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.954 / SU B: 6.154 / SU ML: 0.087 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.109 / ESU R Free: 0.101 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES WITH TLS ADDED.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.19722
1094
5 %
RANDOM
Rwork
0.17364
-
-
-
obs
0.17486
20809
95.71 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK