プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9789 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.4→66 Å / Num. obs: 86984 / % possible obs: 99.3 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 34.6 % / Biso Wilson estimate: 53.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.17 / Net I/σ(I): 18.6
反射 シェル
解像度: 2.4→2.53 Å / 冗長度: 22.2 % / Rmerge(I) obs: 1.5 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 95.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
SOLVE
位相決定
RESOLVE
位相決定
REFMAC
5.5.0109
精密化
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.4→65.73 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.926 / SU B: 17.257 / SU ML: 0.173 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.263 / ESU R Free: 0.222 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES WITH TLS ADDED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23885
3521
4 %
RANDOM
Rwork
0.18402
-
-
-
obs
0.18625
83463
99.31 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK