プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→30 Å / Num. obs: 33037 / % possible obs: 99.2 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 15.2 % / Biso Wilson estimate: 17.84 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.05 / Net I/σ(I): 30.6
反射 シェル
解像度: 1.55→1.63 Å / 冗長度: 7.6 % / Rmerge(I) obs: 0.38 / Mean I/σ(I) obs: 7.6 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE: 1.7_650)
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
SHARP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.55→28.234 Å / SU ML: 0.21 / σ(F): 0 / 位相誤差: 22.78 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: DISORDERED REGIONS WERE MODELED STEREOCHEMICALLY AND RESIDUES WITH POOR SIDE CHAIN DENSITY ARE PRESENTED AS STUBS.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2387
1668
5.1 %
Rwork
0.1966
-
-
obs
0.1988
33037
99.23 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 47.2 Å2 / ksol: 0.361 e/Å3