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-基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 408d | ||||||||||||||||||
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タイトル | STRUCTURAL BASIS FOR RECOGNITION OF A-T AND T-A BASE PAIRS IN THE MINOR GROOVE OF B-DNA | ||||||||||||||||||
要素 | DNA (5'-D(*キーワード | DNA / DRUG IN THE DNA MINOR GROOVE | 機能・相同性 | IMIDAZOLE-PYRROLE POLYAMIDE / DNA | 機能・相同性情報 手法 | X線回折 / 解像度: 2.1 Å | データ登録者 | Kielkopf, C.L. / White, S. / Szewczyk, J.W. / Turner, J.M. / Baird, E.E. / Dervan, P.B. / Rees, D.C. | 引用 | ジャーナル: Science / 年: 1998 | タイトル: A structural basis for recognition of A.T and T.A base pairs in the minor groove of B-DNA. 著者: Kielkopf, C.L. / White, S. / Szewczyk, J.W. / Turner, J.M. / Baird, E.E. / Dervan, P.B. / Rees, D.C. 履歴 |
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-構造の表示
構造ビューア | 分子: MolmilJmol/JSmol |
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-ダウンロードとリンク
-ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | 408d.cif.gz | 25.4 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
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PDB形式 | pdb408d.ent.gz | 17.2 KB | 表示 | PDB形式 |
PDBx/mmJSON形式 | 408d.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
文書・要旨 | 408d_validation.pdf.gz | 472.9 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
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文書・詳細版 | 408d_full_validation.pdf.gz | 481.5 KB | 表示 | |
XML形式データ | 408d_validation.xml.gz | 3.4 KB | 表示 | |
CIF形式データ | 408d_validation.cif.gz | 4.7 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/08/408d ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/08/408d | HTTPS FTP |
-関連構造データ
-リンク
-集合体
登録構造単位 |
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1 |
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単位格子 |
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-要素
#1: DNA鎖 | 分子量: 3045.004 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 組換発現 #2: 化合物 | #3: 水 | ChemComp-HOH / | |
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-実験情報
-実験
実験 | 手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1 |
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-試料調製
結晶 | マシュー密度: 2.72 Å3/Da / 溶媒含有率: 54.82 % | ||||||||||||||||||||||||||||
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結晶化 | 温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 7.5 詳細: pH 7.50, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP, temperature 293.00K | ||||||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 |
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結晶化 | *PLUS 手法: unknown | ||||||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
回折 | 平均測定温度: 103 K |
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放射光源 | 由来: 回転陽極 / タイプ: RIGAKU |
検出器 | タイプ: RIGAKU / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 1997年11月15日 |
放射 | 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 2.1→16 Å / Num. all: 3417 / Num. obs: 3417 / % possible obs: 91 % / Observed criterion σ(F): 0 / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.038 |
反射 | *PLUS % possible obs: 91.6 % / Num. measured all: 12267 |
反射 シェル | *PLUS 最高解像度: 2.1 Å / 最低解像度: 2.18 Å / % possible obs: 82.9 % / Rmerge(I) obs: 0.179 / Mean I/σ(I) obs: 4.1 |
-解析
ソフトウェア |
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精密化 | 解像度: 2.1→20 Å / σ(F): 0
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.1→20 Å
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拘束条件 |
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Xplor file | Serial no: 1 / Param file: NOC2ENDO.PARAM / Topol file: IPPP_NODIH.PAR | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
精密化 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
原子変位パラメータ | *PLUS |