モノクロメーター: Si 111 / プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97
1
2
0.97888
1
3
0.97931
1
4
0.984
1
5
0.964
1
反射
解像度: 1.6→61.78 Å / Num. obs: 76683 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 7.5 % / Biso Wilson estimate: 13.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.063 / Net I/σ(I): 39.2
反射 シェル
解像度: 1.6→1.66 Å / 冗長度: 7.5 % / Rmerge(I) obs: 0.175 / Mean I/σ(I) obs: 11.5 / Num. unique all: 7641 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
ADSC
Quantum
データ収集
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.5.0109
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.6→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.965 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.951 / SU B: 1.22 / SU ML: 0.045 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.082 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.18179
3846
5 %
RANDOM
Rwork
0.1514
-
-
-
obs
0.15292
72799
99.54 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK