ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 3TXQ解像度 : 1.81→70.36 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.961 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.949 / SU B : 5.323 / SU ML : 0.087 / Isotropic thermal model : Isotropic / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.138 / ESU R Free : 0.126 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2199 1792 5 % RANDOM Rwork 0.18699 - - - all 0.18866 34208 - - obs 0.18866 34075 99.61 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 32.582 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.16 Å2 -0.58 Å2 0 Å2 2- - -1.16 Å2 0 Å2 3- - - 1.74 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.81→70.36 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2887 0 0 367 3254
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.022 3000 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.019 1.972 4045 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.569 5 379 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg40.84 25.425 153 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.349 15 612 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.37 15 21 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.067 0.2 445 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2249 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.186 0.2 1588 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.296 0.2 2067 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.122 0.2 315 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.168 0.2 101 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.12 0.2 34 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.72 1.5 1919 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.003 2 2971 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.662 3 1215 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.687 4.5 1062 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.81→1.857 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.274 135 - Rwork 0.233 2516 - obs - - 99.66 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.4929 0.2291 -0.876 0.7941 -0.1508 0.757 0.0492 -0.0342 -0.0606 -0.0069 -0.0106 -0.1086 0.0323 -0.0001 -0.0386 -0.0212 -0.0054 -0.0287 -0.0445 0.0078 -0.0667 25.823 -3.877 21.943 2 1.1845 0.1616 -0.4841 1.6851 -0.9293 0.8922 0.1271 -0.0458 0.0492 -0.0042 -0.0811 -0.1299 -0.0175 0.0779 -0.046 0.0214 -0.0069 -0.011 -0.0729 -0.0067 -0.0713 19.986 -16.651 21.726 3 2.177 0.2331 -1.0808 0.7718 -0.1106 1.0093 -0.0283 0.0136 -0.0943 0.0262 0.0413 -0.0486 0.0316 -0.045 -0.013 -0.0671 0.0048 -0.0207 -0.0588 0.0028 -0.078 9.8761 -24.3548 21.5805 4 2.0209 -0.4029 -1.0537 0.9188 0.472 1.2548 -0.0331 0.0585 -0.1722 0.0573 0.0527 0.0161 0.0052 -0.075 -0.0196 -0.0548 0.0154 -0.0134 -0.03 0.0084 -0.0707 -4.2267 -25.611 21.77
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A32 - 113 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B34 - 114 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C32 - 115 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D34 - 113