ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1YY9解像度 : 2.2→50.1 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.956 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.935 / SU B : 9.662 / SU ML : 0.13 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.187 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22311 1345 5 % RANDOM Rwork 0.18313 - - - obs 0.1852 25334 97.15 % - all - 27461 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 36.381 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.43 Å2 0.22 Å2 0 Å2 2- - 0.43 Å2 0 Å2 3- - - -0.65 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.2→50.1 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3223 0 5 278 3506
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.022 3295 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 2202 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.372 1.952 4482 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.871 3.004 5377 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.06 5 423 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.701 24.286 126 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.06 15 523 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg22.116 15 13 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.08 0.2 505 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 3673 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 653 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.189 0.2 470 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.199 0.2 2119 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.173 0.2 1501 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.084 0.2 1808 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.172 0.2 229 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.143 0.2 15 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.214 0.2 43 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.208 0.2 11 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.727 1.5 2689 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.127 1.5 862 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.92 2 3418 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.561 3 1414 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.152 4.5 1064
LS精密化 シェル 解像度 : 2.2→2.256 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.308 65 - Rwork 0.225 1362 - obs - - 71.24 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 5.8509 -2.8257 5.16 3.1043 -2.3495 5.7578 0.5257 -0.1763 -0.7325 -0.1485 0.065 0.4902 0.8907 -0.3945 -0.5907 0.0971 -0.0416 -0.0731 -0.1796 0.0445 -0.0313 -35.7813 5.8794 10.5047 2 1.3747 -0.5014 -0.6238 3.7672 2.3569 4.8234 0.0469 -0.2367 0.0089 -0.1166 0.0832 0.0206 -0.2613 0.1623 -0.13 -0.2009 -0.0233 0.0194 -0.1306 0.0259 -0.1657 -21.2385 19.9889 36.5129 3 2.6929 -0.5591 2.2759 2.5273 0.7153 5.5005 -0.0047 -0.0162 0.2296 0.1108 -0.0717 -0.235 -0.1236 -0.037 0.0764 -0.1744 0.0413 -0.0072 -0.1916 0.0325 -0.1405 -35.3639 27.3341 2.588 4 4.0639 0.5845 -0.4957 6.1219 -0.5836 2.2481 0.0424 -0.323 -0.2027 0.3126 -0.1 -0.1919 0.0693 0.2202 0.0576 -0.2099 -0.055 0.0169 -0.1127 -0.0186 -0.1727 -8.924 25.3673 27.3488
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 L1 - 109 2 X-RAY DIFFRACTION 2 L110 - 214 3 X-RAY DIFFRACTION 3 H1 - 116 4 X-RAY DIFFRACTION 4 H117 - 219