温度: 277 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 詳細: 10% PEG6000 and 0.2M CaCl2, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 277K
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長 (Å)
シンクロトロン
APS
24-ID-C
1
0.97914
シンクロトロン
APS
24-ID-E
2
0.97914
検出器
タイプ: ADSC QUANTUM 315 / 検出器: CCD / 日付: 2010年11月7日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97914 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3→50 Å / Num. obs: 33862 / % possible obs: 96.1 % / Rsym value: 0.097 / Net I/σ(I): 20.9
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Mean I/σ(I) obs
Rsym value
Diffraction-ID
% possible all
3-3.05
7.6
6.28
0.32
1
96.5
3.05-3.11
1
97.7
3.11-3.17
1
99.1
3.17-3.23
1
99.6
3.23-3.3
1
99.5
3.3-3.38
1
99.1
3.38-3.46
1
99.1
3.46-3.56
1
99
3.56-3.66
1
98.9
3.66-3.78
1
99.1
3.78-3.91
1
98.6
3.91-4.07
1
98.8
4.07-4.26
1
97.3
4.26-4.48
1
96
4.48-4.76
1
95.1
4.76-5.13
1
94.2
5.13-5.64
1
95.8
5.64-6.46
1
94.9
6.46-8.13
1
94.6
8.13-50
1
75.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-3000
データ収集
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.5.0109
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 3.1→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.859 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.764 / SU B: 46.905 / SU ML: 0.399 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.478 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.30819
1538
5 %
RANDOM
Rwork
0.24787
-
-
-
obs
-
29024
99.16 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 67.772 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.48 Å2
0.24 Å2
0 Å2
2-
-
0.48 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.72 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 3.1→30 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
6774
0
140
68
6982
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.014
0.022
7104
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.684
1.966
9706
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
8.057
5
850
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
38.819
24.241
316
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
21.646
15
1080
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
20.646
15
30
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.111
0.2
1116
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.008
0.021
5412
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0
1.5
4272
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
0
2
6974
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.068
3
2832
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
3.573
4.5
2732
X-RAY DIFFRACTION
r_rigid_bond_restr
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_free
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル
最高解像度: 3.1 Å / Num. reflection Rwork: 2154 / Total num. of bins used: 20