ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 AMoRE位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 3D40解像度 : 1.58→26.86 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.97 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.948 / SU B : 2.778 / SU ML : 0.045 / Isotropic thermal model : restrained / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.082 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20287 604 1.5 % RANDOM Rwork 0.16137 - - - obs 0.16194 39740 84.47 % - all - 39740 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 31.701 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.94 Å2 0.47 Å2 0 Å2 2- - 0.94 Å2 0 Å2 3- - - -1.41 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.58→26.86 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2018 0 39 203 2260
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.023 0.021 2131 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.004 0.02 1442 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.113 1.98 2903 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.147 3 3483 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.8 5 266 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg29.694 21.685 89 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.768 15 334 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.444 15 22 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.126 0.2 330 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.021 2354 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 463 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.279 1.5 1325 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.424 1.5 543 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.14 2 2122 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.093 3 806 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.876 4.5 777 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.58→1.621 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.446 39 - Rwork 0.318 2488 - obs - 2488 72.55 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.5392 0.5108 0.3489 1.747 0.6301 1.3554 -0.0381 -0.193 -0.1657 0.0403 0.0323 0.0473 0.2296 0.085 0.0058 0.0537 0.0231 0.0021 0.0418 0.0366 0.0646 26.3774 17.1079 14.5011 2 1.2704 -0.3875 0.1319 0.5983 -0.0505 1.0931 0.0181 -0.0513 -0.0698 -0.011 -0.0099 -0.0263 0.1702 0.1639 -0.0082 0.0355 0.0222 0.0055 0.0323 0.0085 0.0479 29.8271 19.0591 5.4123
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A-9 - 46 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A47 - 263