ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0053精密化 XDSデータ削減 XDSデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.49→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.95 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.941 / SU B : 6.01 / SU ML : 0.131 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.064 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23621 1900 10.4 % RANDOM Rwork 0.20085 - - - obs 0.20433 16284 94.07 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 56.281 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -2.24 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -2.24 Å2 0 Å2 3- - - 4.48 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.49→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3891 0 50 90 4031
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.022 4035 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.387 1.963 5471 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.747 5 464 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg43.732 24.757 206 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg18.753 15 719 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg20.962 15 20 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.097 0.2 586 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.005 0.021 3042 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.532 1.5 2334 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.016 2 3775 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.534 3 1701 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.432 4.5 1696 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / 数 : 1928 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position Atight positional0.05 0.05 Btight thermal0.08 0.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.494→2.559 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.294 151 - Rwork 0.206 1256 - obs - - 98.19 %