ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MD2diffractometer softwareデータ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0088精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 3O3X解像度 : 3→25 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.946 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.873 / SU B : 42.155 / SU ML : 0.361 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.514 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.29044 291 4.9 % RANDOM Rwork 0.20171 - - - obs 0.20578 5600 99.56 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 69.199 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.61 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.17 Å2 0 Å2 3- - - -1.43 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 3→25 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1844 0 10 10 1864
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.021 1895 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.507 1.958 2556 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.537 5 216 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.161 26.465 99 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg17.491 15 329 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.646 15 9 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.098 0.2 276 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.019 1461 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.206 1.5 1155 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.431 2 1829 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it4.393 3 740 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it7.392 4.5 727 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 3→3.077 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.288 32 - Rwork 0.171 393 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : -4.5744 Å / Origin y : 10.36 Å / Origin z : -9.7505 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0475 Å2 -0.0097 Å2 -0.0023 Å2 - 0.21 Å2 0.0784 Å2 - - 0.1697 Å2 L 2.0656 °2 -0.1405 °2 0.0754 °2 - 4.232 °2 2.427 °2 - - 4.2828 °2 S 0.0454 Å ° -0.093 Å ° 0.1002 Å ° 0.0261 Å ° -0.1242 Å ° 0.0812 Å ° -0.0268 Å ° -0.1717 Å ° 0.0788 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A2 - 198 2 X-RAY DIFFRACTION 1 B1 - 35