ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 2QFK解像度 : 1.711→30.51 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.934 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.916 / SU B : 5.144 / SU ML : 0.081 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.164 / ESU R Free : 0.139 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22959 1473 5.1 % RANDOM Rwork 0.19598 - - - obs 0.19773 27415 97.37 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 13.833 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.16 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.34 Å2 0 Å2 3- - - 0.18 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.711→30.51 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2182 0 110 276 2568
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.022 3163 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.987 2.06 4432 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg3.938 5 455 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.358 24.012 167 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.668 15 669 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.83 15 30 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.079 0.2 452 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 2541 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.38 1.5 1745 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.716 2 2922 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.133 3 1418 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.83 4.5 1398 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.711→1.755 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.294 92 - Rwork 0.292 1853 - obs - - 90.05 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7122 0.1081 -0.5469 0.4197 -0.3933 0.7171 -0.0008 0.0428 -0.0429 -0.0035 -0.0441 -0.0028 0.0106 -0.0412 0.0449 0.022 -0.0032 -0.0026 0.0455 -0.0162 0.0115 7.5462 5.2112 14.9074 2 0.2839 0.1631 0.0274 0.7875 -0.2666 0.2769 0.0002 0.0219 -0.0053 -0.015 0.0106 -0.0316 0.0028 -0.0107 -0.0107 0.0233 0.0037 -0.0078 0.0108 -0.0042 0.0298 5.7261 31.6841 -13.0352
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 139 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 139