タイプ: MAR CCD 165 mm / 検出器: CCD / 日付: 2008年12月3日 / 詳細: Slits: Variable vertical and horizontal slits
放射
モノクロメーター: Monochromator system consisting of a horizontally deflecting and focusing crystal preceded by a vertically focusing mirror プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.98 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 2.8 % / Av σ(I) over netI: 12.64 / 数: 262022 / Rmerge(I) obs: 0.082 / Χ2: 1.04 / D res high: 1.82 Å / D res low: 30 Å / Num. obs: 93014 / % possible obs: 97
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
3.92
30
95.3
1
0.055
1.018
3
3.11
3.92
97.3
1
0.062
0.992
3
2.72
3.11
98
1
0.078
1.037
3
2.47
2.72
98.4
1
0.096
1.074
3
2.29
2.47
98.8
1
0.121
1.041
2.9
2.16
2.29
99.1
1
0.142
1.059
2.9
2.05
2.16
99.2
1
0.181
1.081
2.9
1.96
2.05
99.2
1
0.233
1.08
2.8
1.89
1.96
97.7
1
0.289
1.019
2.5
1.82
1.89
86.5
1
0.38
0.941
2
反射
解像度: 1.82→30 Å / Num. obs: 93014 / % possible obs: 97 % / 冗長度: 2.8 % / Rmerge(I) obs: 0.082 / Χ2: 1.04 / Net I/σ(I): 8.5