ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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XSCALE | | データスケーリング | | PHASER | 2.1.4位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.005 | データ抽出 | | XDS | | データ削減 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: pdb entry 1kaw 解像度: 2.5→29.7 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.936 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.918 / WRfactor Rfree: 0.262 / WRfactor Rwork: 0.228 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.793 / SU B: 19.377 / SU ML: 0.197 / SU R Cruickshank DPI: 0.341 / SU Rfree: 0.26 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.341 / ESU R Free: 0.26 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES RESIDUAL ONLY
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.267 | 542 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.225 | - | - | - |
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obs | 0.228 | 10779 | 99.5 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 73.53 Å2 / Biso mean: 36.943 Å2 / Biso min: 20.74 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.05 Å2 | -0.03 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -0.05 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.08 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.5→29.7 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1460 | 0 | 1 | 22 | 1483 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.014 | 0.021 | 1508 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.51 | 1.945 | 2049 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.472 | 5 | 190 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg29.099 | 24.426 | 61 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg16.624 | 15 | 234 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg8.984 | 15 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.098 | 0.2 | 238 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.006 | 0.021 | 1118 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.668 | 1.5 | 952 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.283 | 2 | 1515 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.193 | 3 | 556 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.547 | 4.5 | 532 | | | | | | | | | | | | |
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Refine LS restraints NCS | Dom-ID: 1 / Auth asym-ID: A / Ens-ID: 1 / 数: 703 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION タイプ | Rms dev position (Å) | Weight position |
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MEDIUM POSITIONAL0.44 | 0.5 | MEDIUM THERMAL0.92 | 2 | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.5→2.565 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.387 | 37 | - |
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Rwork | 0.356 | 738 | - |
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all | - | 775 | - |
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obs | - | - | 100 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 3.6772 | -0.1088 | 0.2704 | 3.6995 | -0.0416 | 4.9155 | 0.0341 | -0.0327 | 0.2669 | -0.0861 | -0.067 | 0.3718 | -0.4416 | -0.4844 | 0.0329 | 0.061 | 0.0406 | -0.0508 | 0.201 | -0.0374 | 0.1687 | 4.4716 | -37.3848 | 5.8182 | 2 | 3.9744 | 1.0185 | -1.316 | 3.3734 | -1.5027 | 6.3613 | -0.0941 | 0.1784 | 0.2727 | -0.1456 | -0.0776 | -0.0294 | -0.3868 | 0.1463 | 0.1717 | 0.1477 | -0.0161 | -0.07 | 0.0891 | 0.0211 | 0.1584 | 24.3299 | -29.1065 | -0.1463 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A-1 - 113 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A149 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A150 - 158 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B-1 - 112 | 5 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B149 - 161 | | | | | |
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