ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345データ収集 SOLVE位相決定 CNS1 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 2.1→50 Å / Rfactor Rfree error : 0.012 / Data cutoff high absF : 1129284.98 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : Isotropic / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.257 500 5 % RANDOM Rwork 0.218 - - - obs 0.218 10073 97.5 % - all - 10329 - -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 41.56 Å2 / ksol : 0.36 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 40.8 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 8.91 Å2 0 Å2 3.25 Å2 2- - -2.08 Å2 0 Å2 3- - - -6.83 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.35 Å 0.27 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.19 Å 0.19 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→50 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1342 0 0 42 1384
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.014 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.71 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.18 Å / Rfactor Rfree error : 0.035 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.264 32 4.5 % Rwork 0.259 1521 - obs - - 94 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOP