ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.005 | データ抽出 | | BLU-MAX | | データ収集 | | HKL-2000 | | データ削減 | | SHARP | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.5→37.7 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.957 / WRfactor Rfree: 0.187 / WRfactor Rwork: 0.156 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0 / FOM work R set: 0.914 / SU B: 2.164 / SU ML: 0.038 / SU R Cruickshank DPI: 0.067 / SU Rfree: 0.069 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.067 / ESU R Free: 0.069 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES: RESIDUAL ONLY
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.177 | 3757 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.147 | - | - | - |
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all | 0.149 | 77152 | - | - |
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obs | 0.148 | 74621 | 96.7 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 89.52 Å2 / Biso mean: 10.801 Å2 / Biso min: 2 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.06 Å2 | -0 Å2 | -0.08 Å2 |
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2- | - | -0.04 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.03 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.5→37.7 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3394 | 0 | 91 | 878 | 4363 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.01 | 0.022 | 3713 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.371 | 1.996 | 5100 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.364 | 5 | 500 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg31.902 | 23.75 | 144 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg11.713 | 15 | 594 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg21.337 | 15 | 29 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.094 | 0.2 | 596 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.008 | 0.021 | 2782 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it1.585 | 1.5 | 2396 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it2.479 | 2 | 3867 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it4.483 | 3 | 1317 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it6.63 | 4.5 | 1221 | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.5→1.54 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.253 | 170 | - |
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Rwork | 0.233 | 3750 | - |
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all | - | 3920 | - |
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obs | - | 3396 | 70.2 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 0.2077 | 0.1324 | 0.0383 | 0.43 | -0.0635 | 0.2306 | -0.0059 | 0.0277 | 0.002 | -0.001 | 0.005 | 0.026 | -0.0407 | 0.0007 | 0.0008 | 0.0247 | 0.0016 | 0.027 | 0.0496 | -0.0072 | 0.0501 | 36.863 | 36.641 | 2.507 | 2 | 0.4677 | 0.1759 | -0.0576 | 0.277 | 0.0062 | 0.304 | 0.0081 | -0.0071 | 0.0296 | 0.0099 | 0.0038 | 0.0218 | 0.0095 | -0.056 | -0.0118 | 0.0106 | -0.0013 | 0.0211 | 0.0629 | -0.0122 | 0.0494 | 16.132 | 10.391 | 10.573 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A0 - 229 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B0 - 229 | | |
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