モノクロメーター: Si(111) CHANNEL / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97937 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.35→27.39 Å / Num. all: 99985 / Num. obs: 99408 / % possible obs: 99.4 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 7.1 % / Biso Wilson estimate: 12.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.079 / Net I/σ(I): 41.361
反射 シェル
解像度: 1.35→1.4 Å / 冗長度: 5.3 % / Rmerge(I) obs: 0.377 / Mean I/σ(I) obs: 4.1 / Num. unique all: 9495 / % possible all: 95.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SBC-Collect
データ収集
HKL-3000
位相決定
SHELXCD
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.38→27.39 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.962 / SU B: 1.449 / SU ML: 0.027 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.058 / ESU R Free: 0.052 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.17364
4637
5 %
RANDOM
Rwork
0.14958
-
-
-
obs
0.15078
88709
99.71 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK