ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB REFMAC5.1.19精密化 Show PDB_EXTRACT2 データ抽出 Show DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1OYG解像度 : 2.1→30 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.934 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.908 / SU B : 7.768 / SU ML : 0.115 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.251 / ESU R Free : 0.191 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22357 1268 5.1 % RANDOM Rwork 0.17923 - - - all 0.185 25079 - - obs 0.18144 23811 98.23 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 15.237 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.52 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.93 Å2 0 Å2 3- - - -0.41 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→30 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3438 0 35 275 3748
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.022 3549 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.066 1.949 4813 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.963 5 439 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.685 25.562 169 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg11.329 15 582 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg14.683 15 9 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.073 0.2 530 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2697 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.179 0.2 1628 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.299 0.2 2443 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.11 0.2 323 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.087 0.2 3 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.188 0.2 40 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.124 0.2 25 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.248 1.5 2248 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.416 2 3504 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.715 3 1506 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.144 4.5 1309 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.155 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.228 98 - Rwork 0.178 1724 - obs - 3611 98.49 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 44.1377 Å / Origin y : 29.7902 Å / Origin z : 15.2224 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0833 Å2 0.016 Å2 -0.0084 Å2 - -0.0881 Å2 0.0027 Å2 - - -0.0704 Å2 L 0.7993 °2 0.0664 °2 0.0753 °2 - 0.6977 °2 0.213 °2 - - 0.9297 °2 S -0.0125 Å ° -0.024 Å ° 0.0196 Å ° 0.0411 Å ° 0.003 Å ° -0.0099 Å ° -0.038 Å ° 0.0003 Å ° 0.0095 Å °