モノクロメーター: Diamond / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97961 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.75→50 Å / Num. obs: 100102 / % possible obs: 92.3 % / Observed criterion σ(I): -0.5 / 冗長度: 4.2 % / Biso Wilson estimate: 17.05 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.157 / Rsym value: 0.105 / Net I/σ(I): 3.7
反射 シェル
解像度: 1.75→1.81 Å / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.81 / Mean I/σ(I) obs: 0.7 / % possible all: 87.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELX
モデル構築
REFMAC
5.3.0034
精密化
MAR345
CCD
データ収集
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.8→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.958 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.924 / SU B: 3.943 / SU ML: 0.121 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.153 / ESU R Free: 0.156 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.27128
2602
3 %
RANDOM
Rwork
0.20963
-
-
-
obs
0.21152
83014
94.18 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK