ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-3000データ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 1HFY解像度 : 1.6→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.949 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.916 / SU B : 3.484 / SU ML : 0.065 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.099 / ESU R Free : 0.108 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2352 1535 5 % RANDOM Rwork 0.18034 - - - obs 0.18323 29008 97.01 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 23.416 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.59 Å2 0 Å2 0.91 Å2 2- - -1.21 Å2 -0 Å2 3- - - -0.16 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1934 0 2 271 2207
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.022 0.02 2024 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.018 0.02 1349 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.113 1.935 2752 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.508 3.01 3307 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.186 5 249 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.749 26.505 103 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.882 15 371 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.087 15 3 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.174 0.2 300 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.012 0.02 2240 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 383 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.84 1.5 1210 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.219 1.5 490 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.477 2 1961 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.152 3 814 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.314 4.5 785 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.601→1.642 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.239 112 - Rwork 0.186 2106 - obs - - 97.32 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2319 -0.14 -0.1746 0.4346 0.2143 1.0631 -0.0103 -0.0028 -0.0055 0.0008 0.0167 0.0331 0.0089 0.023 -0.0064 0.0022 0.0077 -0.0001 0.0385 0.0053 0.0273 9.3378 -0.2379 7.7115 2 0.034 -0.0625 -0.1401 1.0972 0.221 0.7077 0.0157 0.0033 0.0042 0.0414 0.0125 0.0052 -0.0348 0.0279 -0.0282 0.0154 -0.0009 -0.0091 0.0311 0.0029 0.0397 7.5077 22.9084 12.432
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 120 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 120