ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0005精密化 HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1XGE解像度 : 1.29→32 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.978 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.973 / SU B : 1.102 / SU ML : 0.022 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.043 / ESU R Free : 0.041 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.154 8407 5 % RANDOM Rwork 0.129 - - - obs 0.131 166743 91.1 % - all - 166743 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 17.902 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.17 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.15 Å2 0 Å2 3- - - 0.02 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.043 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.29→32 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 5464 0 45 782 6291
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.009 0.022 5542 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 5105 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.354 1.965 7571 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.831 3 11792 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.198 5 712 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.197 23.167 240 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg10.455 15 873 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg14.488 15 42 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.083 0.2 878 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 6237 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 1140 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.217 0.2 1063 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.178 0.2 5315 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.177 0.2 2721 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.082 0.2 3211 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.11 0.2 468 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.059 0.2 10 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.207 0.2 6 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.243 0.2 43 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.188 0.2 31 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it3.59 4 3693 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other3.49 4 1393 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it4.087 6 5651 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it4.168 4 2194 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.347 6 1907 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr2.44 3 11661 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free12.383 3 786 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded6.448 3 10513
LS精密化 シェル 解像度 : 1.29→1.32 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.2 335 - Rwork 0.156 6383 - obs - 6718 49.77 %