モノクロメーター: SIDE SCATTERING I-BEAM BENT SINGLE CRYSTAL ASYMMETRIC CUT 4.9650 DEG プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97982 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.7→38 Å / Num. obs: 10392 / % possible obs: 99.2 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 1.8 % / Biso Wilson estimate: 60.8 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.05 / Net I/σ(I): 10
反射 シェル
解像度: 2.7→2.79 Å / 冗長度: 1.7 % / Rmerge(I) obs: 0.27 / Mean I/σ(I) obs: 2.4 / % possible all: 99.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0062
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.7→38 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.917 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.915 / SU B: 14.906 / SU ML: 0.287 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.704 / ESU R Free: 0.382 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES REFINED INDIVIDUALLY.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.31381
278
4.6 %
RANDOM
Rwork
0.2704
-
-
-
obs
0.27251
5730
99.11 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK