ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ALA 366 TO GLY ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, VAL 367 TO ALA ...ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ALA 366 TO GLY ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, VAL 367 TO ALA ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, PRO 368 TO MET ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, GLU 369 TO PHE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, VAL 370 TO LEU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, LEU 372 TO ALA ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, SER 373 TO ILE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ASP 374 TO PRO ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, GLN 375 TO ARG
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 2.35 Å3/Da / 溶媒含有率: 48 % / 解説: NONE
結晶化
pH: 5.4 / 詳細: 20% PEG3350, PH 5.4
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: 回転陽極 / タイプ: RIGAKU RU200 / 波長: 1.5418
検出器
日付: 2007年10月11日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.09→21.97 Å / Num. obs: 24692 / % possible obs: 98.2 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 5.2 % / Rmerge(I) obs: 0.09 / Net I/σ(I): 14.5
反射 シェル
解像度: 2.09→2.21 Å / 冗長度: 3.3 % / Rmerge(I) obs: 0.32 / Mean I/σ(I) obs: 3.3 / % possible all: 88.5
解像度: 2.09→86.39 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.94 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.913 / SU B: 11.626 / SU ML: 0.139 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.238 / ESU R Free: 0.201 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD PDB / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.25957
1254
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.21038
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-
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obs
0.21284
23353
99.49 %
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溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK