プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→20 Å / Num. obs: 9150 / % possible obs: 99.7 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 7.4 % / Biso Wilson estimate: 18.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 31.6
-
解析
ソフトウェア
名称: REFMAC / バージョン: 5.5.0088 / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: OTHER / 解像度: 1.8→46.42 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.951 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.935 / SU B: 2.295 / SU ML: 0.072 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.132 / ESU R Free: 0.128 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES REFINED INDIVIDUALLY.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22565
431
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.18301
-
-
-
obs
0.18499
8628
99.64 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK