プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→40 Å / Num. obs: 29960 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 6.3 % / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 22.7
反射 シェル
解像度: 2.3→2.42 Å / 冗長度: 6.5 % / Rmerge(I) obs: 0.23 / Mean I/σ(I) obs: 8.3 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MOSFLM
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SHELXCDE
位相決定
SHARP
位相決定
REFMAC
5.4.0066
精密化
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.3→144.34 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.932 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.909 / SU B: 8.478 / SU ML: 0.11 / TLS residual ADP flag: UNVERIFIED / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.18 / ESU R Free: 0.167 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. RESIDUES LACKING SIDE CHAIN DENSITY HAVE BEEN REFINED AS ALA OR WITH OCCU 0.01
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.239
1505
5 %
RANDOM
Rwork
0.208
-
-
-
obs
0.209
28425
99.9 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK