タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2006年1月1日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
Si220
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
Si220
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
2
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97625
1
2
0.97931
1
Reflection
冗長度: 12.8 % / Av σ(I) over netI: 14.1 / 数: 305962 / Rmerge(I) obs: 0.072 / Χ2: 2.05 / D res high: 1.89 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 23868 / % possible obs: 100
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
5.13
50
99.1
1
0.054
5.774
12.3
4.07
5.13
100
1
0.052
4.258
12.7
3.56
4.07
100
1
0.062
4.649
12.6
3.23
3.56
100
1
0.062
3.708
12.9
3
3.23
100
1
0.064
2.713
13.1
2.82
3
100
1
0.07
2.358
13.1
2.68
2.82
100
1
0.073
1.986
13.1
2.57
2.68
100
1
0.08
1.705
13.1
2.47
2.57
100
1
0.086
1.564
13.2
2.38
2.47
100
1
0.09
1.441
13.1
2.31
2.38
100
1
0.097
1.345
13.1
2.24
2.31
100
1
0.117
1.311
13.1
2.18
2.24
100
1
0.124
1.175
13.1
2.13
2.18
100
1
0.132
1.074
13.1
2.08
2.13
100
1
0.148
1.105
13
2.04
2.08
100
1
0.182
1.042
13
2
2.04
100
1
0.2
0.98
13
1.96
2
100
1
0.242
0.939
13.2
1.92
1.96
100
1
0.281
0.941
12.2
1.89
1.92
100
1
0.325
0.924
10.4
反射
解像度: 1.4→50 Å / Num. obs: 47858 / % possible obs: 81.2 % / 冗長度: 10.3 % / Rmerge(I) obs: 0.058 / Χ2: 1.044 / Net I/σ(I): 16.1