ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1J5X解像度 : 1.7→30 Å / Rfactor Rfree error : 0.003 / Data cutoff high absF : 1503999.75 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.189 3427 5 % RANDOM Rwork 0.166 - - - all 0.167 68190 - - obs 0.166 68190 99.5 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 43.4757 Å2 / ksol : 0.3214 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 16.5 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.3 Å2 0 Å2 -0.05 Å2 2- - -1.47 Å2 0 Å2 3- - - 0.17 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.19 Å 0.16 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.13 Å 0.11 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→30 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 5190 0 13 740 5943
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.1 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.89 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it0.95 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.35 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.9 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.81 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.7→1.81 Å / Rfactor Rfree error : 0.01 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.237 527 4.8 % Rwork 0.205 10421 - obs - - 96.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 3 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 4 egl.paramegl.top