ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
X-PLOR | 3.1 | 精密化 | XDS | | データ削減 |
|
---|
精密化 | 解像度: 2.38→8 Å / σ(F): 2 / | Rfactor | 反射数 |
---|
Rwork | 0.171 | - |
---|
obs | 0.171 | 2045 |
---|
|
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 26 Å2 |
---|
Refine Biso | クラス | Refine-ID | 詳細 | Treatment |
---|
ALL ATOMSX-RAY DIFFRACTION | TRisotropicALL WATERSX-RAY DIFFRACTION | TRisotropic | | | | | |
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.38→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 0 | 322 | 0 | 66 | 388 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.009 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.48 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
|
---|
ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / 分類: refinement |
---|
精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.38 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 2 |
---|
溶媒の処理 | *PLUS |
---|
原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 26 Å2 |
---|