ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0005精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング SHELXD位相決定 SOLVE位相決定 RESOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.8→40 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.962 / SU B : 3.281 / SU ML : 0.053 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.119 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2019 2258 - RANDOM Rwork 0.16947 - - - obs 0.16947 75767 86.21 % - all - 75767 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 27.331 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.51 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 1.44 Å2 0 Å2 3- - - -0.93 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.8→40 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 5890 0 13 681 6584
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 6221 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.509 1.977 8437 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.806 5 748 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.033 22.539 323 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.07 15 1085 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.021 15 87 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.109 0.2 932 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 4792 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.21 0.2 2986 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.304 0.2 4181 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.169 0.2 587 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.226 0.2 64 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.184 0.2 26 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.932 1.5 3771 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.641 2 6042 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.824 3 2542 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.55 4.5 2395 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.795→1.842 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rwork 0.207 2491 - Rfree - 0 - obs - - 38.73 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.5057 -0.2476 0.1478 0.4485 -0.1991 0.6884 0.0271 0.0437 -0.0316 0.0221 0.0104 -0.0186 0.0409 -0.0201 -0.0375 -0.0264 -0.0019 -0.0253 -0.036 -0.0022 -0.0195 26.1031 11.2188 53.7481 2 0.8939 -0.2304 -0.1161 0.5944 -0.0224 0.753 0.0591 0.0082 0.0384 -0.058 -0.022 0.0226 -0.0752 -0.0168 -0.037 -0.0196 0.0139 0.0071 -0.0387 0.0088 -0.0416 3.2334 39.9327 39.1471 3 0.2111 -0.0271 -0.2849 0.639 -0.1033 1.2827 -0.001 0.001 -0.0098 -0.0512 -0.0026 -0.0489 -0.1341 0.1767 0.0036 -0.0148 -0.0448 0.0116 -0.0043 0.0032 -0.0495 32.5971 24.2403 16.4888
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA3 - 252 5 - 254 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB3 - 253 5 - 255 3 X-RAY DIFFRACTION 3 CC3 - 252 5 - 254