モノクロメーター: DOUBLE CRYSTAL MONOCHROMATOR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97957 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.65→40 Å / Num. obs: 48128 / % possible obs: 87.2 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 12 % / Rmerge(I) obs: 0.104 / Net I/σ(I): 34.6
反射 シェル
解像度: 1.65→1.69 Å / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.324 / Mean I/σ(I) obs: 2.75 / % possible all: 44.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
SCALEPACK
データスケーリング
SHELXD
位相決定
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.1.24
精密化
HKL-2000
データ削減
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.65→40 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.978 / SU B: 0.873 / SU ML: 0.028 / σ(F): 0 / ESU R: 0.071 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.144
1979
-
RANDOM
Rwork
0.12
-
-
-
obs
0.121
48124
87 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK