モノクロメーター: SINGLE CRYSTAL SI(311) BENT MONOCHROMATOR プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.977757 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→29.41 Å / Num. obs: 28995 / % possible obs: 98 % / 冗長度: 3.9 % / Biso Wilson estimate: 49.54 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.059 / Net I/σ(I): 14.5
反射 シェル
解像度: 2.3→2.42 Å / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.344 / Mean I/σ(I) obs: 3.9 / Num. unique all: 4221 / % possible all: 98.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MOSFLM
データ削減
SCALA
4.2)
データスケーリング
SHELXD
位相決定
autoSHARP
位相決定
REFMAC
5.2.0003
精密化
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Obtained from MAD data of a crystal of SE-MET substituted protein in space group P21 21 2 解像度: 2.3→29.41 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.949 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.915 / SU B: 16.544 / SU ML: 0.2 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.297 / ESU R Free: 0.244 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: EXTRA DENSITY IN THE ACTIVE SITE WAS TENTATIVELY MODELED AS PYROPHOSPHATE BASED ON THE FIT TO ELECTRON DENSITY. ONE POTASSIUM, TWO CHLORINES AND TWO IODIDES ARE MODELED. THESE ENTITIES ARE ...詳細: EXTRA DENSITY IN THE ACTIVE SITE WAS TENTATIVELY MODELED AS PYROPHOSPHATE BASED ON THE FIT TO ELECTRON DENSITY. ONE POTASSIUM, TWO CHLORINES AND TWO IODIDES ARE MODELED. THESE ENTITIES ARE POTENTIALLY FROM THE CRYSTALLIZATION BUFFERS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26455
1470
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.20035
-
-
-
obs
0.20352
27525
97.55 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 32.35 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
4.39 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
1.05 Å2
0 Å2
3-
-
-
-5.43 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.3→29.41 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
4007
0
58
149
4214
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.015
0.022
4159
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.608
1.961
5657
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.944
5
510
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
39.468
24.731
186
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
17.577
15
694
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
16.642
15
18
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.111
0.2
635
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.006
0.02
3138
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.231
0.2
1882
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.148
0.2
218
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.196
0.2
158
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.165
0.2
21
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.976
3
2557
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.433
5
4159
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
6.732
8
1620
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
8.73
11
1498
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.312
0.2
2789
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.152
0.2
3
LS精密化 シェル
解像度: 2.299→2.359 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.366
108
5.18 %
Rwork
0.275
1976
-
obs
-
-
96.44 %
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
0.1655
0.1861
-0.1851
0.2367
-0.0581
1.0279
-0.0047
-0.0202
0.1208
-0.0436
0.0569
0.0026
0.3462
0.202
-0.0522
-0.0433
0.1051
-0.0115
-0.0449
-0.0209
0.0022
12.6815
42.2816
50.6398
2
3.5835
-1.261
-3.0933
3.9456
-0.0652
3.0502
0.1966
-0.1719
0.0739
-0.0983
-0.0128
0.1827
0.3094
0.1057
-0.1838
0.0977
-0.0156
-0.0943
-0.0928
0.0168
-0.1341
0.6668
23.2512
75.9671
3
5.7373
-2.1706
0.9975
0.8212
-0.3774
0.1734
0.3636
0.2283
0.2754
0.2017
-0.4305
-0.1231
-0.1313
-0.0206
0.0669
-0.0084
0.0677
0.0667
0.0055
-0.028
-0.0188
17.7581
53.5553
44.7565
精密化 TLSグループ
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Selection: ALL / Auth asym-ID: A