ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB CNS1.1 精密化 Show HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング SOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多重同系置換 / 解像度 : 2.8→11.99 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 1 / 交差検証法 : THROUGHOUT / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.331 1638 5 % random Rwork 0.298 - - - all 0.307 35000 - - obs 0.306 32869 93.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : CNS bulk solvent model used / Bsol : 45.5888 Å2 / ksol : 0.294514 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 92.74 Å2 / Biso mean : 43.01 Å2 / Biso min : 18.13 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -19.29 Å2 1.59 Å2 0 Å2 2- - -19.29 Å2 0 Å2 3- - - 38.58 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.52 Å 0.42 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.62 Å 0.44 Å Luzzati d res high - 2.8
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→11.99 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6504 0 32 106 6642
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.009 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.6 X-RAY DIFFRACTION x_torsion_deg27.3 X-RAY DIFFRACTION x_torsion_impr_deg1.05
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 8
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree % reflection Rfree (%)Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Rfactor Rfree error Num. reflection all Num. reflection obs % reflection obs (%)2.8-2.93 0.442 201 6.1 0.379 3076 0.031 4334 3277 75.6 2.93-3.08 0.403 158 4.3 0.337 3533 0.032 4316 3691 85.5 3.08-3.27 0.336 203 5 0.277 3859 0.024 4344 4062 93.5 3.27-3.51 0.303 210 4.9 0.266 4033 0.021 4342 4243 97.7 3.51-3.86 0.337 237 5.5 0.294 4094 0.022 4355 4331 99.4 3.86-4.39 0.345 218 5 0.293 4144 0.023 4384 4362 99.5 4.39-5.44 0.319 185 4.2 0.306 4203 0.023 4408 4388 99.5 5.44-11.99 0.291 226 5 0.291 4289 0.019 4541 4515 99.4
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 ldao.parldao.topX-RAY DIFFRACTION 3 water_rep.paramwater.top