ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB CNS1.1 精密化 Show HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング SOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多重同系置換 / 解像度 : 2.6→10 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 1 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.301 2033 5.1 % random Rwork 0.257 - - - all 0.262 43671 - - obs 0.262 40152 91.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : CNS bulk solvent model used / Bsol : 65.2399 Å2 / ksol : 0.3789 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 172.71 Å2 / Biso mean : 72.17 Å2 / Biso min : 23.42 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 7.88 Å2 0 Å2 -6.08 Å2 2- - -13.11 Å2 0 Å2 3- - - 5.23 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.51 Å 0.42 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.62 Å 0.49 Å Luzzati d res high - 2.6
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.6→10 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6626 0 133 150 6909
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION x_torsion_deg26.1 X-RAY DIFFRACTION x_torsion_impr_deg0.87
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 8
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree % reflection Rfree (%)Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Rfactor Rfree error Num. reflection all Num. reflection obs % reflection obs (%)2.6-2.72 0.414 199 5.2 0.381 3594 0.029 5446 3793 69.6 2.72-2.86 0.425 198 4.5 0.363 4187 0.03 5440 4385 80.6 2.86-3.03 0.396 253 5.2 0.339 4640 0.025 5420 4893 90.3 3.03-3.26 0.357 271 5.2 0.301 4958 0.022 5439 5229 96.1 3.26-3.57 0.323 280 5.2 0.266 5089 0.019 5437 5369 98.7 3.57-4.06 0.316 290 5.3 0.271 5182 0.019 5494 5472 99.6 4.06-5 0.255 269 4.9 0.225 5179 0.016 5462 5448 99.7 5-10 0.254 273 4.9 0.213 5290 0.015 5565 5563 100
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 ldao.parldao.topX-RAY DIFFRACTION 3 c8e4.parc8e4.topX-RAY DIFFRACTION 4 water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 5 ion.paramion.top