ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | EPMR | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Ferredoxin from Allochromatium vinosum (PDB 1BLU) 解像度: 2.9→25.86 Å / Rfactor Rfree error: 0.016 / Data cutoff high absF: 1092461.4 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.219 | 198 | 5.3 % | RANDOM |
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Rwork | 0.197 | - | - | - |
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all | 0.197 | 3753 | - | - |
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obs | 0.197 | 3753 | 91.1 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 28.1492 Å2 / ksol: 0.366861 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 48.7 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 3.31 Å2 | 9.98 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 3.31 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -6.63 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.34 Å | 0.34 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.19 Å | 0.49 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.9→25.86 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 621 | 0 | 16 | 0 | 637 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.007 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d23.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.83 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it0.9 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.61 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.45 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.16 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.9→3.08 Å / Rfactor Rfree error: 0.044 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.226 | 26 | 5.7 % |
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Rwork | 0.329 | 433 | - |
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obs | - | - | 68.2 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | PARAM.FESTOPH.FESX-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMION.TOP | | | | | | | |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.9 Å |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.22 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg23.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.83 | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.25 / Rfactor Rwork: 0.33 |
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