ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング CNS1.1 位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.85→14.86 Å / Rfactor Rfree error : 0.005 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : ENGH & HUBERRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23 1772 4.9 % RANDOM Rwork 0.212 - - - obs 0.212 36309 92.3 % - all - 36309 - -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 44.85 Å2 / ksol : 0.35 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 46.4 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 5.46 Å2 4.19 Å2 0 Å2 2- - 5.46 Å2 0 Å2 3- - - -10.91 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.26 Å 0.24 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.29 Å 0.27 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.85→14.86 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 972 810 10 70 1862
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.004 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.9 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d16.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.02 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.42 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.21 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.11 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.15 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.86→1.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.024 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.355 220 4.5 % Rwork 0.324 4623 - obs - - 74.2 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 DNA-RNA_REP.PARAM DNA-RNA.TOP X-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 4 ION.PARAMION.TOP
精密化 *PLUS
最低解像度 : 15 Å / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.236 / Rfactor Rwork : 0.214 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.9 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg16.3