ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHASES | | 位相決定 | CNS | 0.3 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 2.2→30 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high rms absF: 3350183.46 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 詳細: BULK SOLVENT MODEL USED
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.262 | 3398 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.196 | - | - | - |
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obs | 0.196 | 66995 | 97.6 % | - |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 45.6 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -9.16 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 1.91 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 7.25 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.2→30 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 7244 | 0 | 12 | 267 | 7523 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.018 | | X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.1 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg_na | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg_prot | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d24.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.11 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it7.83 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it9.89 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it11.34 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it13.41 | 2.5 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.2→2.34 Å / Rfactor Rfree error: 0.015 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.344 | 551 | 5.1 % |
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Rwork | 0.292 | 10165 | - |
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obs | - | - | 94.5 % |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 0.3 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS Num. reflection obs: 66997 / Rfactor Rfree: 0.26 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.04 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg24.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.11 | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor obs: 0.292 |
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