プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.8045 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→50 Å / Num. obs: 33867 / % possible obs: 98.9 % / 冗長度: 5.6 % / Biso Wilson estimate: 24.7 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.052 / Net I/σ(I): 23.6
反射
*PLUS
最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 50 Å / 冗長度: 5.6 % / Rmerge(I) obs: 0.052
反射 シェル
*PLUS
最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 2 Å / % possible obs: 98.8 % / 冗長度: 3.6 % / Mean I/σ(I) obs: 5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.1
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
CNS
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 / 解像度: 1.9→19.22 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Data cutoff high absF: 1768668.7 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 詳細: THE FIRST THREE N-TERMINAL- RESIDUES AND RESIDUES 143-149 OF THE STRUCTURE ARE NOT WELL DEFINED BY THE ELECTRON DENSITY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.259
1017
3 %
RANDOM
Rwork
0.222
-
-
-
obs
0.222
33871
98.9 %
-
溶媒の処理
溶媒モデル: FLAT MODEL / ksol: 0.383249 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso mean: 38 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-1.66 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
8.65 Å2
0 Å2
3-
-
-
-6.99 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.31 Å
0.25 Å
Luzzati d res low
-
5 Å
Luzzati sigma a
0.25 Å
0.21 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.9→19.22 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3514
0
15
311
3840
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d
0.005
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg
1.1
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d
20.9
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d
0.67
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_mcbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_mcangle_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scbond_it
X-RAY DIFFRACTION
c_scangle_it
LS精密化 シェル
解像度: 1.9→2.02 Å / Rfactor Rfree error: 0.027 / Total num. of bins used: 6