ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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CNS | 1.1 | 精密化 | SCALEPACK | | データスケーリング | CNS | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: フーリエ合成 開始モデル: PDB ENTRY 1AFU 解像度: 1.5→23.57 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 1004066.26 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0.001 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.244 | 1861 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.211 | - | - | - |
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obs | 0.211 | 37206 | 98 % | - |
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all | - | 37206 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 38.3939 Å2 / ksol: 0.36897 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 21 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.39 Å2 | 0 Å2 | -0.76 Å2 |
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2- | - | 1.23 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.84 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.23 Å | 0.2 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.12 Å | 0.11 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.5→23.57 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1902 | 0 | 42 | 399 | 2343 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.004 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d24.6 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.75 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.16 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.86 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.86 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.64 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.5→1.59 Å / Rfactor Rfree error: 0.025 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.446 | 319 | 5.4 % |
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Rwork | 0.422 | 5607 | - |
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obs | - | 36876 | 94.9 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | DNA-RNA_FOR_LI.PARAM | U2P_NEW.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | | |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.5 Å / % reflection Rfree: 5 % / Rfactor Rfree: 0.24 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg24.6 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.75 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS 最低解像度: 1.55 Å |
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